一、儀器設備說明
本儀器JEOL JEM-1400 Flash 多功能低電壓穿透式電子顯微鏡於2023年12月裝機完成。
於2024年1月加入國科會成大貴儀中心運作服務。
電子源為熱游離式六硼化鑭燈絲。
120kV之操作加速電壓適合易損傷樣品觀察(若有更低電壓需求可與技術員討論，可低至40kV)。
於120kV下解析度為0.33nm(Point)/0.14nm(Lattice)/1.5nm(STEM)。
二、服務項目
1. TEM明視野與暗視野影像。
2. 可拍攝選區電子繞射圖(選區光圈範圍最小約250nm，電子束最小約30nm)。
3.STEM-環形明場與環型暗場影像。
4.配有EDS偵測器，可執行點、線與面元素分析。
三、取樣應注意事項
1、目標觀察區厚度0.1um以下，承載於直徑3mm之TEM碳膜金屬網或冶具上。
2、具高揮發性、未經正確處理或充分乾燥的粉末樣品、未具足夠的機械強度或未確實承載於碳膜金屬網上之樣本…等等，因其可能造成機台汙染，技術人員有權拒絕分析。
3、若對樣本性質、狀態或其他機台相關事項有任何疑慮請事先與技術人員聯繫討論。
四、收費辦法及標準
以國家科學及技術委員會-基礎研究核心設施預約服務管理系統為主。
五、預約注意事項
1、每個月25日中午12:30開放預約下個月份使用時段（由國家科學及技術委員會貴儀資訊管理系統預約）。
2、欲自行操作使用儀器者(限有執照)，請於預約前先與技術人員接洽。
3、已完成預約的使用者，請於使用當日前先行查詢儀器狀況。
4、已完成預約的使用者，若欲取消，請於使用當日的三天前上網取消，否則儀器使用費酌情計費。
六、本儀器之指導教授與技術員
技術員： 鄭宇軒 先生
(06)2757575轉31357
email：z10809028@ncku.edu.tw
七、本儀器放置地點
國立成功大學自強校區儀器設備大樓B1樓B110室
