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白光干涉儀/White light interferometer

儀器照片
一、儀器設備說明
  1. 儀器購置年月:2020年10月
  2. 加入貴儀年月:2021年1月
  3. 儀器經費來源:貴儀中心與學校配合款
  4. 廠牌及型號:BRUKER/ContourGT-K
  5. 重要規格:
      (1)    最大掃描範圍:達10mm
      (2)    縱向解析度:< 0.1 nm
      (3)    PMS重複性(PSI):0.03nm
      (4)    台階高度準確性:< 0.75% (在8μm及以上的台階標準片上測得)
      (5)    台階高度重複性:< 0.1% 1 sigma repeatability
      (6)    最大掃描速度:47 μm/sec (標準CCD) 
      (7)    樣品反射率範圍:0.05%~100%
      (8)    最大坡度-光滑面:達40º
      (9)    最大坡度-粗糙面:達87º
      (10)    XY樣品載台:150 mm(6吋)手動載台
      (11)    樣品載台荷重:10 lb(約4.5 kg)
      (12)    縱向量測範圍:100 mm (4吋)
      (13)    鏡頭傾斜:±6º手動載台傾斜
      (14)    光學量測模組:雙LED照明(白光&綠光),可搭配旋轉物鏡,可搭配縮放目鏡
      (15)    物鏡選擇:2.5x, 5x, 10x, 50x
      (16)    目鏡選擇:0.55x, 1x, 2x 
      (17)    標準彩色:640x480
      (18)    操作軟體:Vision64 Analysis Software (搭配Win10作業系統)
二、服務項目
  1. 2D/3D量測 (2D/3D measurement)
  2. 表面粗糙度 (Surface roughness)
  3. 曲面量測 (Curvature measurement)
  4. 膜厚/段差量測 (Thickness/Height)
  5. 尺度量測 (Dimension measurement)
三、取樣應注意事項:
  1. 服務方式:
    自行操作:本設備以提供使用者自行操作為主,使用者先完成儀器訓練課程後,方可自行操作。
    代工服務:收到樣品後,再由管理者安排代工量測。
  2. 訓練課程規定:請先與管理者聯繫,安排儀器訓練課程。
  3. 樣品準備需知:
    適用樣品型態(Sample type):薄膜 (Thin film)、塊材 (Bluk),試片尺寸及重量需符合設備規格(XY樣品載台150 mm、縱向量測範圍100 mm、載台荷重4.5 kg)。
四、收費辦法及標準
  • 以成功大學核心設施中心共儀服務預約系統為主,預約申請及計費查詢請至共儀預約系統
五、聯絡方式
  姓名 電話 電子郵件
技術員 徐光毅 先生 06-2757575 轉 31399 z11008108@ncku.edu.tw
樣品寄送 地址:701401 臺南市東區大學路1號 國立成功大學 基礎研究核心設施    收件人:徐光毅 先生
六、儀器放置地點
國立成功大學自強校區儀器設備大樓2樓203室
七、申請表格及注意事項

校外委託送件者若不方便親自送件,可利用郵寄將試片送達。請附上回郵信封及寫上收件地址與收件人。

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