本儀器JEOL JEM-1400 Flash 多功能低電壓穿透式電子顯微鏡於2023年12月裝機完成。

於2024年1月加入國科會成大貴儀中心運作服務。

電子源為熱游離式六硼化鑭燈絲。

120kV之操作加速電壓適合易損傷樣品觀察(若有更低電壓需求可與技術員討論，可低至40kV)。

於120kV下解析度為0.33nm(Point)/0.14nm(Lattice)/1.5nm(STEM)。

1. TEM明視野與暗視野影像。

2. 可拍攝選區電子繞射圖(選區光圈範圍最小約250nm，電子束最小約30nm)。

3.STEM-環形明場與環型暗場影像。

4.配有EDS偵測器，可執行點、線與面元素分析。

1、目標觀察區厚度0.1um以下，承載於直徑3mm之TEM碳膜金屬網或冶具上。

2、具高揮發性、未經正確處理或充分乾燥的粉末樣品、未具足夠的機械強度或未確實承載於碳膜金屬網上之樣本…等等，因其可能造成機台汙染，技術人員有權拒絕分析。

3、若對樣本性質、狀態或其他機台相關事項有任何疑慮請事先與技術人員聯繫討論。

1、每個月25日中午12:30開放預約下個月份使用時段（由國家科學及技術委員會貴儀資訊管理系統預約）。

2、欲自行操作使用儀器者(限有執照)，請於預約前先與技術人員接洽。

3、已完成預約的使用者，請於使用當日前先行查詢儀器狀況。

4、已完成預約的使用者，若欲取消，請於使用當日的三天前上網取消，否則儀器使用費酌情計費。

技術員：　鄭宇軒 先生　　　

(06)2757575轉31357　　

email：z10809028@ncku.edu.tw

國立成功大學自強校區儀器設備大樓B1樓B110室