高解析氣相層析飛行質譜儀／High Resolution TOF- Mass spectrometer


日本 JEOL AccuTOF GCx-plus		SHIMADZU QP2020
一、儀器設備說明
儀器購置年月：2018年10月加入貴儀年月：2019年1月儀器經費來源：科技部廠牌及型號：日本 JEOL AccuTOF GCx-plus 及 SHIMADZU QP2020
二、服務項目
EI，CI，FAB，FD Mode之一般解析度質譜測定。 EI，CI Mode 高解析度質譜測定及組成演算。 EI，CI，FAB，FD Mode之負離子質譜測定。
三、取樣應注意事項
凡送至本中心之待測樣品（sample），若只要測質譜，希望能事先加以純化（purification）。送測樣品：請在申請單上儘量告知所有的資料，例如：溶點（melting point），沸點（boiling point），分子量（MV）範圍。 GC-MS 之測定，請於送測樣品前，先找出最好的GC條件。所需待測樣品之量極少，固態及液態者只需 1 ㎎即夠使用，但若可能請多送一些樣品，以便有懷疑時，多做檢定。
四、收費辦法及標準
以國科會-基礎研究核心設施預約服務管理系統為主，請上線查閱：儀器計費查詢。
五、聯絡方式
	姓名	電話	電子郵件
技術員	梁美蘭小姐	06-2757575轉31378	z9508215@ncku.edu.tw
樣品寄送	地址：701401 臺南市東區大學路1號國立成功大學基礎研究核心設施收件人：梁美蘭小姐
六、儀器放置地點
國立成功大學自強校區儀器設備大樓1樓0108室
七、參考資料
108年11月4日（一） 2019（質譜組）儀器技術研討會 GCMS(氣相層析質譜儀)簡介及應用分析

[技術手冊]

瀏覽數:

友善列印